1. Materials and Methods

De exakta kemiska kompositionerna (i mass-%) av Hastelloy-x legeringar med 0 och 0,12 yttrium kallas HX och HX-a, respektive, och visas i tabell 1. Dessa två provstycken byggt i form av en 45 x 45 x 45 mm kub med hjälp av EOS M290 SLM maskin (EOS, Robert-Stirling-Ring 1, 82152, Krailling, Bayern, Tyskland) i en Skyddande AT-atmosfär med användning av pre-alloyed pulver och samma behandlingsparametrar. Vi utförde standardvärmebehandling för både HX och HX-a-exemplen. Upplösningsbehandling (ST) utfördes vid 1177 ◦C för 2 h, följt av luftkylning till rumstemperatur

För kryptestet, vi skivade den kub i ett antal plattor med en tjocklek på 3,1 mm; från dessa plattor, de kryptestprovbitar skärs ut med användning av en elektro-discharge trådskärmaskin. Mätdimensionerna för varje prov var 19,6 × 2,8 × 3,0 mm. Vi genomförde krypstestet under 900 ◦C/80 MPa-förhållanden. Proven polerades med användning av SiC-smärgelpapper upp till grad 1200#följt av diamantpasta upp till kolloidal kiseldioxid (0,5 | im) med användning av en Struers (Ballerup, Danmark) automatisk polermaskin. Alla prover tvättades sedan med etanol i ett ultraljudsbad under 10 minuter. Vi etsade provstyckena med 20% fosforsyra+80% vattenlösning för att observera de smälta pool gränser. Den mikrostrukturella observationen utfördes med användning av ett optiskt mikroskop (OM; Olympus Corp. Tokyo, Japan), ett svepelektronmikroskop (SEM, Hitachi, Ltd., Tokyo, Japan), energi-dispersive spektroskopi (EDS) (S-3700N typ EDS utrustning tillverkad av Horiba Seisakusho Co., Ltd., Kyoto, Japan), och fältemissionselektronmikroskop (FE-SEM) (JSM-7100, JEOL, Tokyo, Japan) ansluten till en EDS (EDAXAMETEX 9424). Bild J programvara (64--bit Java 1.8.0_172) användes för att analysera spricka fraktion och porositetsmätningar

3. results.

3.1. Microstructure Observation

3.1.1. as-Built Prover

Figure 1 visar den HX och HX-A-exemplar \"optiska mikrostrukturer i AS-built-tillståndet. Alla tillverkades med samma behandlingsparametrar. HX-a provstycket uppvisade fler sprickor än HX (Figur 1a) eftersom HX-a provexemplaret ytterligare yttrium (Y) legeringselement att HX provet saknade. Den anmärkningsvärda punkten är att alla sprickor var parallella med byggriktningen (BD) (Figur IB). Sprickan fraktionerna för HX och HX-a exemplar är en% och 5%, respektive

Figure 2 visar. SEM-mikrofotografier av som-built prov. Vid lägre förstoring visade alla exemplar smälta poolgränser och stelningsstrukturer, såsom korngränser och dendriter (Figur 2A, B för HX och Figur 2C, D för HX-a). Figur 2B visar sprickor vid högre förstoring i HX-provet. I båda proverna, var sprickorna bildade längs korngränsen och synts i interdendritiska områden.

Vi utförs EDS kartläggnings avsökningar vid sprickor i HX och HX-a prover. EDS-analys avslöjade SiC karbider och W6C bildning i HX provet (figur 3a). I HX-a prov, EDS kartläggning på crack visade bildning av YC (figur 3b).

Figure 4 visar Eds kartläggning av HX-a som-built proimen, som indikerar förekomsten av liten Y-oxid (Yttrien) och Si-oxid (kiseldioxid) partiklar inuti kornet. Elektronens bakre diffraktionskartor (EBSD) -kristallografiska orienteringskartor av båda proverna i det som-built-tillståndet (Figur 5) avslöjade kolumnarkornorienteradenästan parallella med byggriktningen. I HX-provet är vissa kornorienterade i riktning och vissa är i riktning (Figur 5A). Å andra sidan är kornen i HX-a-provetnågot finare och mest orienterade i riktningen (Figur 5b)