3.1.2 

------figure 6 visar SEM-mikrofotografier efter st värmebehandling. Gränserna för smälta pooler och dendritiska strukturer försvann. HX ST-exemplet presenterade den ekvaderad kornmorfologi vid lägre förstoring (Figur 6A). Det provet visade också många tvillingar vid högre förstoringar (Figur 6B). För HX-a-provet liknade St SPECIMENs kornmorfologi som det för det som-builtprovet (Figur 6C). Två huvudskillnader observerades mellan HX-provet och HX-a-provet efter ST-behandlingen: i den senare blev korngränsen tjockare med karbid och de fina karbiderna bildades inuti kornet (Figur 6D). I den tidigare observerades inga karbider inuti kornet och korngränsen var tunnare än den hos HX-a ST-provet (Figur 6B). Vi utförde SEM-analys av HXa sombuilt proimen vid korngränsen; Resultaten presenteras i Figur 7A. M6C, SIC och YC bildades vid korngränsen. Dessa karbider vid korngränsen måste ha fastnat gränsen under lösningen värmebehandling. Vi utförde FeSEM-analys vid korngränsen i HX

a St Prov. Figur 7b visar Fe

sem mikrografi av HXa St-provet. MC (Si, Y), (MO, W) 6C och CR23C6-karbider bildades vid korngränsen. Dessa orsakade främst korngränsen som slutligen upprätthåller en kolonnkornmorfologi

----<> 

----------

----------------- -

figure 8 visar IPFS av HX och HX

a-exemplen vid ST-villkoret. Efter lösningen värmebehandling visade HX-provet equiaxed korn och orienteringen var slumpmässig (Figur 8a). De flesta av kornen har en riktning längs (Figur 8a). Emellertid verkade HXa-provet likna HXa som

built proimen (Figur 5b); Det vill säga att den hade en kolumnkornmorfologi och hälften av kornen kvarstod längs

---100----

\\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n8b.n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\ Nure 9a visar EDS-kartläggningen av HX \\ Na St-provet, vilket indikerar Mo \\ Nrich-karbider inuti kornet. Det fanns också bildandet av en oxid av y och si \\ncontaining c inuti kornet (se figur 9a). För att finna orsaken till ackumulering av M6C-karbider längs de interdendritiska regionerna efter lösningen värmebehandling utförde vi EDS-kartläggning vid de interdendritiska områdena i HX \\ Na som \\ Nbuilt proimen (Figur 9b); Vid de interdendritiska regionerna var Mo, Si, C och O segregerade. Material 2021, 14, X för peer review 8 av 16 Figur 9A visar EDS-kartläggning av HX \\ Na-St-provet, vilket indikerar Mo \\ Nrich-karbider inuti kornet. Det fanns också bildandet av en oxid av y och si \\ncontaining c inuti kornet (se figur 9a). För att finna orsaken till ackumulering av M6C-karbider längs de interdendritiska regionerna efter lösningen värmebehandling utförde vi EDS-kartläggning vid de interdendritiska områdena i HX \\ Na som \\ Nbuilt proimen (Figur 9b); Vid de interdendritiska regionerna var Mo, Si, C och O \\ N \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\nwe drev ett krypstest längs byggnadsriktningen (vertikal prov) ochnormal till byggnad riktningar (horisontellt prov); Krypkurvorna presenteras i Figur 10. I det som \\ Nbuilt-tillståndet uppvisade det vertikala HX-provet ett krypsliv på 13,8 h medan HXA-provet uppvisade ett krypsliv 1,46 gånger högre, 20,2 h (figur 10a). Vidare avslöjade HX \\ NA en högre kryp \\ Nrupture-förlängning (5,7%) än HX (2,8%). HX som \\ Nbuilt horisontellt prov uppvisade längre krypsliv (3,4 h) än HX \\ Na horisontella provet (0,26 h), men briststammen varnästan densamma i båda proverna (Figur 10B). Figur 10c visar de krypa egenskaperna hos ST vertikala exemplar. HX-provet uppvisade ett krypsliv på 3,7 h, medan HX \\ Na-provet visade ett krypande liv åtta gånger högre, 29,6 h. HX \\ NA visade en högre kryp \\ Nrupture-förlängning (15,6%),nästan dubbelt den hos HX (7,5%). HX ST horisontella provet uppvisade längre krypsliv (3,6 h) än HX \\ Na horisontellt prov (0,26 h), men den krypande \\nrupture-förlängningen varnästan densamma i båda proverna (Figur 10D). Material 2021, 14, X för peer review 9 av 16 Vi utförde ett krypstest längs byggnadsriktningen (vertikal prov) ochnormalt till byggnadsriktningar (horisontellt prov); Krypkurvorna presenteras i figur 10. I det som \\ Nbuilt-tillstånd uppvisade det vertikala HX-provet ett krypsliv på 13,8 h medan HX \\ Na-provet uppvisade ett krypslängd 1,46 gånger högre, 20,2 h (figur 10a). Vidare avslöjade HX \\ NA en högre kryp \\ Nrupture-förlängning (5,7%) än HX (2,8%). HX som \\ Nbuilt horisontellt prov uppvisade längre krypsliv (3,4 h) än HX \\ Na horisontella provet (0,26 h), men briststammen varnästan densamma i båda proverna (Figur 10B). Figur 10c visar de krypa egenskaperna hos ST vertikala exemplar. HX provet uppvisade en kryp liv (3,6 h) än HX \\na \\n \\n \\n \\n \\nhorizontal prov (0,26 h), men kryp \\nrupture töjning varnästan densamma i båda proverna (Figur 10d). \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\nfigure 11 visar kryp \\nrupture ytor. Det framgår av figur 11a, b att HX och HX \\ Na som \\ Nbuilt vertikala prover uppvisade långsträckta korn, som så småningom visarnackning och inducera frakturering. Däremot kan en ganska klyvning \\nlike yta observeras på det som \\ Nbuilt hx och hx \\na horisontella prover (figur 11c, d, respektive). Uppenbarligen, sprickorna föreliggande vinkelrätt mot spänningsaxeln resulterade i klyvning \\ Nlike yta längs den dendritiska strukturen, vilket indikerar sprött beteende och lägre duktilitet \\n \\n. \\ N \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n